Weitere Forschungsaktivitäten sind im Bereich der mm-Wellentechnik zu finden. Um das Verhalten von Bauteilen und Baugruppen beschreiben zu können, werden sie über einen breiten Frequenzbereich (bis 110 GHz) charakterisiert . Die Schwerpunkte liegen einerseits in den dafür notwendigen komplexen Messaufbauten, anderseits wird die erhaltene Information in linearen bzw. nichtlinearen Modellen abgebildet. Nachdem das Verhalten von Schaltungen auf diese Weise genau beschrieben worden ist, können geeignete Kompensationstechniken gewählt und die unerwünschte Anteile im Systemverhalten reduziert werden.

Messungen direkt an einer integrierten Schaltung (Die) mittels Wafer-Prober, unabhängig ob single-ended oder differentiell, benötigen bei Mikrowellen- und mm-Wellenfrequenzen eine große Sorgfalt, um wiederholbare Messergebnisse zu erzielen. Mit unserem halbautomatischen Wafer-Prober im Reinraum stellen wir sicher, dass solche Messungen unter sehr konstante Umweltbedingungen stattfinden können. Gleichzeitig entwickeln wir angepasste Kalibrationssets und Deembedding-Verfahren, um die Messebene tatsächlich zu dem untersuchenden Bauteil (device under test - DUT) zu verschieben. Da diese Bauteile unterschiedliche Anforderungen für einen korrekten Betrieb benötigen, müssen auch die Kalibrier- und Deembedding-Methoden passend adaptiert werden. Ein Schwerpunkt unserer Forschung liegt dabei auch in der Optimierung der Leiterstrukturen für breitbandige Messungen auch an Leiterplatten.