Time Domain Reflectivity
Keysight N100A DCA-X Mainframe
Methode
- Messung des Impedanzprofils eines Device under Test (DUT).
- Besteht aus Step Generator und Oszilloskop.
- Die Stelle der Diskontinuität wird durch den Zeitpunkt bestimmt, wann die Reflektion am Oszilloskop ankommt. Die Größe der Diskontinuität wird durch die Amplitude des reflektierten Pulses bestimmt (Echo – Technik).
- Durch Analysetechniken kann man Widerstand, Induktivität oder Kapazität der Diskontinuität berechnen.
Spezifikationen
Rise Time (definiert durch Bandbreite und Rise time der Quelle) is bestimmt die örtliche Auflösung, Unterscheidbarkeit benachbarter Diskontinuitäten. Sie ist variabel zwischen 18 ps – 200 ps. 18 ps = 3 mm Auflösung.
Remote Head minimiert systematische Fehler (keine Reflektion von Kabeln).
Anwendungen
- Impedanzmessungen
- Lokalisierung der Position und Art jeder Diskontinuität
- Propagation/time delay
- Überschüssige Reaktanz (Kapazität oder Induktivität)
- Effektive Dielektrizitätskonstante
- Signal Integrity
Spezifikationen
- 4-Kanal Oszilloskop mit 35 GHz Bandbreite
- elektrische Remoteabtastköpfe mit TDR/TDT-Messfunktion (erweiterbar auf 16 TDR-Kanäle)
- Die 4 Abtastköpfe können als ein 4-Kanal-Abtastoszilloskop betrieben werden
- 10 ps Receiver Transition Time
- TDR - Step Transition Time: 15 ps (mit TDR-Kalibrierung)
- 16 Bit vertikale Auflösung
- Unterstützt single-ended und differentielle Messungen
- Verbesserte Impedanz- und S-Parameter-Analyseoptionen, S – Parameter Analyse von DC – 50 GHz
- Sampling Rate: 250 kSA/s
- Softwareunterstützung für automatisches Entfernen der Halterung und De-Embedding