Parameter Analyzer
Semiconductor Parameter Analyzer Keysight B1500A
Anwendungsbeispiele
Automatisierte Charakterisierung von Dioden, MOSFETs, Bipolaren,
Leistungsbauelementen, Solarzellen, Speichern, organischen Bauelementen und Nanobauelementen:
I-V, C-V, C-f, C-t, Komponenten-Fehlanpassung, Stress-Monitoring von Degradation [Durchbruchspannung, Bias-Temperaturinstabilität, Elektromigration, Degradation durch heiße Ladungsträgerinjektion, spannungsabhängiger dielektrischer Durchbruch], Bewertung der Lebensdauer
Eine GUI-basierte Software, die auf der Windows 10-Plattform des B1500A läuft, unterstützt eine effiziente und wiederholbare Gerätecharakterisierung.
• 4 SMU channels (1 A, 200 V / 1 fA, 0.5 µV)
• Multi-frequency Capacitance Measurement Unit (1 kHz .. 5 MHz, 1 mVRMS, 100 V DC)
• Waveform Generator Fast Measurement Unit (100 ns pulse / 5 ns sampling)
• Unify units to combine measurement setups I-V / C-V / fast I-V